杨雷副教授获得分析测试协会科学技术奖（CAIA奖）青年奖

2017年10月10日，第十七届分析测试学术报告会暨展览会学术报告会和分析测试协会颁奖仪式在北京隆重举行。在此次大会上，我院杨雷副教授因对稀土掺杂ZnO纳米材料中，稀土离子在晶格中位置分析技术的贡献，获得分析测试协会科学技术奖（CAIA奖）青年奖。该项成果，能够利用稀土Eu³⁺在ZnO晶格中的荧光峰分裂情况，准确的判断，Eu³⁺在ZnO晶格中占据位置以及占据位置晶格环境的对称性。

中国分析测试协会科学技术奖经由国家科学技术奖励办公室正式登记批准，是分析测试领域唯一的社会团体奖项。获奖成果基本上反映了国内分析测试领域新方法、新技术、新应用的研究发展方向和领先水平，对加强分析测试领域和相关学科的基础研究和应用研究、推动技术转移与成果转化、提升我国分析测试机构和科技人员的创新能力和学术水平发挥了重要作用。20多年来，包括国家最高科学技术奖获得者徐光宪院士等在内的众多知名专家学者都曾多次获得协会的这一奖项。2015年11月，经国家科学技术奖励工作办公室审核批准，中国分析测试协会获得国家科学技术奖推荐资格，对历届获得“CAIA奖”的项目择优推荐国家科学技术奖。